中心通孔平面硅探测器,是一款高性能辐射探测解决方案,专为同步辐射、X 射线成像及高能物理应用设计。该系列产品具备多个探测单元,可实现空间分辨和多通道信号采集,满足高精度成像和粒子计数需求。中心圆形通孔设计便于应用中光束通过及对样品的精确控制,特别适用于同步辐射、X 射线衍射等应用场景,探测器具有高灵敏度、低噪声和快速响应特性。产品可提供定制化服务,支持不同尺寸、单元数量和通孔设计,满足多样化应用需求。
◆ 采用像素结构的多探测单元,支持空间分辨和多通道信号采集
◆ 通孔设计便于光束通过或样品定位,特别适合同步辐射和 X 射线衍射
◆ 采用表面钝化工艺,形成坚固、可靠的接触极
◆ 采用离子注入工艺,具有低噪声、高能量分辨率
◆ 低结电容和高效电荷收集,适用于实时成像和高通量应用需求
◆ 支持不同尺寸、单元数量和通孔设计定制
指标 | 参数 |
---|---|
象限数量 | 4 |
引脚数量 | 6 |
灵敏区尺寸(mm):内侧 | φ6.3 |
灵敏区尺寸(mm):外侧 | 14.5 [正12边型 , 边到边] |
芯片尺寸(mm) | 15.5×15.5 [正12边型, 边到边] |
中心孔直径(mm) | φ5.6 |
入射窗工艺 | Al |
硅层厚度(μm) | 500 |
象限间距(μm) | 160 |