表面钝化离子注入型探测器（PIPS探测器）采用平面工艺设计，通过光刻技术精确确定几何外形，离子注入工艺形成连接触点，具有更小的反向漏电流和更薄的入射窗口死层厚度，主要用于测量α粒子和β射线，广泛应用于核科学与技术、辐射防护与监测、环境辐射检测等领域。

与硅表面位垒探测器（SSB）相比，其结构边沿埋置于探测器内部，而非使用环氧树脂密封，使其漏电流更小；离子注入技术能获得更薄的入射死层厚度，有利于提高探测分辨率，同时保持坚固、可靠的接触极。

◆ 离子注入工艺形成更薄更精确的连接触点，低噪声，可获得更好的能量分辨率

◆ 薄的入射窗口死层厚度

◆ 先进的表面钝化工艺，使其获得更小的漏电流和更稳定的性能

◆ 入射窗表面可选覆盖铝层或SiO₂，铝窗坚固耐用，方便清洗擦拭

◆ 最高偏置电压可达150V

◆ 成熟的封装工艺，标准SMA接口/SMT贴片，具有良好的兼容性

◆ 标准探测器可烘烤至 120℃